1. 產(chǎn)品名稱

   型   號

立式溫濕度交變實驗箱

2. 試樣說明

本恒溫恒濕箱適用：

電工、電子、電器產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高、低溫環(huán)境下儲

存、運輸和使用時的適應(yīng)性試驗。

本試驗設(shè)備禁止：

易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存

腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存

生物試樣的試驗或儲存

強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存

3. 容積、尺寸和重量

3.1. 標稱內(nèi)容積

3.2. 內(nèi)箱尺寸

3.3. 重量

80L

深400×寬 400×高 500 mm

約200kg

4. 性能

4.1. 測試環(huán)境條件

4.2. 測試方法

環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、試驗箱內(nèi)試樣條件下

GB/T 5170.2-1996 溫度試驗設(shè)備

GB/T 5170.5-1996 濕熱試驗設(shè)備

4.3. 溫度范圍

0℃→+150℃； -20℃→+150℃； -40℃→+150℃； -70℃→+150℃

4.4. 溫度波動度

±0.5℃

4.5. 溫度偏差

±2.0℃

4.6. 升溫速率

平均3℃/ min

4.7. 降溫速率

平均0.7～1℃/ min

4.8. 濕度范圍

（20～98）%RH（參照溫濕度可控制范圍圖，有源熱負載）

4.9. 濕度波動度

溫度均勻度

±1%RH

±2%RH（濕度≤75%RH 時）

4.10. 滿足試驗標

準

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法；

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法；

GB/T 2423.3-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法；

GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Db: 交變濕熱(12h+12h循環(huán))

GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N 溫度變化試驗方法；

GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》；

GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》；

GB/T 10586-2006《濕熱試驗箱技術(shù)條件》。

MIL-STD810D方法502.2 美用標準；

GJB 150.9-1986 設(shè)備環(huán)境試驗方法 濕熱試驗

IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗規(guī)程.2部分:1節(jié).試驗.試驗A:低溫試驗

EC68-2-14_試驗方法N_溫度變化

GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗ZAD:溫度濕度組合循環(huán)試驗